在高速发展的科技时代,集成电路(芯片)的应用无处不在,芯片质量是品牌信誉和用户安全的守护神。也是关乎公司生死存亡的大事,一款高品质的芯片可能会为公司带来巨额利润,而一款有质量隐患的芯片也可能会让公司倾家荡产。如何提升产品质量成为众多芯片公司的头等大事,可靠性测试作为提升产品质量的重要手段,被越来越多的芯片公司重视起来,掌握先进的可靠性测试技术,不仅是提升产品竞争力的关键,更是每位质量工程师职业生涯中的必修课。上海顶策科技精心打造的《芯片可靠性测试深度解析课程》,将为您揭开可靠性测试的神秘面纱,带您系统学习、并实操两大核心可靠性测试技术:高温工作寿命测试(HTOL)与高加速温湿度应力测试(HAST)。

课程内容:

本次课程从可靠性测试基础开始,详细介绍常见可靠性测试项目的内容及测试方法,以HTOL和HAST两个实施难度较大的可靠性测试为核心,深度解析可靠性测试标准,测试方法,具体方案设计及实施细节,测试案例分享,测试技巧、经验总结等等,系统、全面的讲解可靠性测试技术。主要内容如下:

从近10年来的培训经验来看,目前这种以理论结合实验的培训方式,测试技术最容易掌握,同学们的技术水平也提高最快。通过培训,无经验的测试小白可以独立进行可靠性测试,有少许经验的更会有质的提升,培训结束后我们有相应的考核,通过考核的同学可得到业界认可的芯片测试培训证书。

培训讲师由经验丰富的测试专家主讲,分享行业最佳实践和案例。利用这个机会,把我们积累了20多年的技术经验,以最短的时间,最好的方式分享给大家,让大家能够更快,更轻松的掌握最实用的IC测试技术!

温馨提醒一下,为保证培训质量,本次培训仅限10人,满额即止,参加的要抓紧哦…… 

报名者请联系:刘婷 电话(微信):13166339996

参加培训人员建议:

1、芯片设计公司质量部门工程师,测试工程师,应用工程师以及设计工程师。

2、芯片封测厂质量部门相关工程师。

3、FAB厂质量部门相关工程师。

4、电子产品厂商或汽车厂商质量部门相关工程师。

5、有志于从事芯片测试的应届毕业生。

培训时间:2024年3月27-29日(周三-周五连续3天)

地点:上海浦东新区海基六路218弄8号楼1-2楼